PRODUCTS AND SOLUTIONS
产品及解决方案
♦ 通道数:2 或 1
♦ 最小 V/I 脉冲源:<100 µs、0.1% 稳定
♦ V/I 范围:0.1 fA 至 10 A,100 nV 至 200 V
♦ 最大速度:20k 个读数/秒到缓冲
♦ 最小 V/I 脉冲源:<100 µs、0.1% 稳定
♦ V/I 范围:0.1 fA 至 10 A,100 nV 至 200 V
♦ 最大速度:20k 个读数/秒到缓冲
完整的生产测试,无需牺牲空间
满足您的所有生产测试需求,在同一空间内有两条完全隔离的宽动态源和测量通道。 每条 40 W 通道提供 6½ 位精确分辨率源,在小于 100 µs 脉冲宽度和设定值的 0.1% 范围内,测量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。
使用 2600B 简化 FET 测试
特点
♦在同一空间内可有 2 条通道
♦最宽的电压和电流动态范围
满足您的所有生产测试需求,在同一空间内有两条完全隔离的宽动态源和测量通道。 每条 40 W 通道提供 6½ 位精确分辨率源,在小于 100 µs 脉冲宽度和设定值的 0.1% 范围内,测量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。
使用 2600B 系列进行二极管生产测试
特点
♦消除与 PC 之间耗时的总线通信
♦高级数据处理和流量控制
♦通用型探头/处理程序控制
使用 Keithley 2600B 系列仪器增加多引脚设备的生产吞吐量
特点
♦支持 <500 ns 通道间同步
♦可达 32 条或 64 条独立 SMU 通道
♦随着测试要求变化轻松重新配置
适合生产的最佳低电流性能
2635B 和 2636B SMU 在最低 100 pA 范围内提供 0.1 fA、10-16 分辨率,减少超低电平样本检定烦恼,确保生产成功。
特点
♦在最低电流范围内稳定时间快 7 倍
♦具有市面上的最佳低电流分辨率
♦直接三芯同轴连接简化了设置
学习更多, 获得更多。

满足您的所有生产测试需求,在同一空间内有两条完全隔离的宽动态源和测量通道。 每条 40 W 通道提供 6½ 位精确分辨率源,在小于 100 µs 脉冲宽度和设定值的 0.1% 范围内,测量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。
使用 2600B 简化 FET 测试
特点
♦在同一空间内可有 2 条通道
♦最宽的电压和电流动态范围
♦高度准确的 100 µs 脉冲可扩展直流生产测试能力
满足您的所有生产测试需求,在同一空间内有两条完全隔离的宽动态源和测量通道。 每条 40 W 通道提供 6½ 位精确分辨率源,在小于 100 µs 脉冲宽度和设定值的 0.1% 范围内,测量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。
使用 2600B 系列进行二极管生产测试
特点
♦消除与 PC 之间耗时的总线通信
♦高级数据处理和流量控制
♦通用型探头/处理程序控制

系统性能,无主机
TSP-Link® 技术支持扩展多达 64 条通道,支持高速、SMU-per-pin 并行测试(而不使用主机)。 <500 ns 时所有通道同时独立受控。使用 Keithley 2600B 系列仪器增加多引脚设备的生产吞吐量
特点
♦支持 <500 ns 通道间同步
♦可达 32 条或 64 条独立 SMU 通道
♦随着测试要求变化轻松重新配置
适合生产的最佳低电流性能
2635B 和 2636B SMU 在最低 100 pA 范围内提供 0.1 fA、10-16 分辨率,减少超低电平样本检定烦恼,确保生产成功。
特点
♦在最低电流范围内稳定时间快 7 倍
♦具有市面上的最佳低电流分辨率
♦直接三芯同轴连接简化了设置
源测量单元教程学习中心将关于 Keithley SMU 和其他产品的大量信息都放在一个方便的位置。 我们提供指向与我们所服务的应用和行业相关的各种内容的链接。
